隨著電子產(chǎn)業(yè)的不斷飛速發(fā)展，與之相關(guān)的新型檢測(cè)技術(shù)也在不斷地涌現(xiàn)出來(lái)。常規(guī)的無(wú)損分析往往只能獲得線路板表面的信息，難以提供完整的內(nèi)部信息。多功能射線檢測(cè)儀作為新興的分析手段，實(shí)現(xiàn)在不破壞樣品的前提下，檢測(cè)出不可見(jiàn)缺陷，反映樣品的內(nèi)部信息。

　　隨著消費(fèi)電子和工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)的蓬勃發(fā)展，對(duì)于硬件支撐的電子技術(shù)提出了更高的要求，封裝的小型化和組裝的高密度化以及功能集成化的新型器件是現(xiàn)在電子技術(shù)的新方向；并且工藝質(zhì)量的要求也由此越來(lái)越高。于是對(duì)檢查的方法和技術(shù)提出了更高的要求。

　　γ能譜儀主要用于環(huán)境及工作場(chǎng)所的γ輻射劑量的測(cè)量及核素分析，給出總譜劑量率和特定核素對(duì)應(yīng)的劑量率。對(duì)安檢、核事故現(xiàn)場(chǎng)污染分析，提供可靠的數(shù)據(jù)。系統(tǒng)內(nèi)置核素庫(kù)，根據(jù)采集的能譜，識(shí)別人工及天然同位素。

　　儀器為全數(shù)字化γ能譜及劑量率測(cè)量系統(tǒng)，集探測(cè)器、成型放大器、多道分析器、電源、存儲(chǔ)器為一體，操作簡(jiǎn)單，便于攜帶。儀器標(biāo)配φ30×25（mm）NaI（Tl）閃爍探頭，并可選配φ25×25（mm）溴化鑭高分辨率γ能譜探頭以及φ20×6（mm）碲化鋅鎘（CZT）半導(dǎo)體探測(cè)器，分析低能X射線譜。

　　探頭外殼上帶有把手，方便手提。同時(shí)可配支架，用戶可將探頭面朝上放置，將放射源樣本放置于探頭面上測(cè)量。